Kemisk Avbildning

Kemisk Avbildning(CII) är en omfattande forskningsinfrastruktur med ett primärt fokus på högupplöst bildmasspektrometri. Infrastrukturen erbjuder ett brett utbud av verktyg för analytiska frågor inom materialvetenskap, geovetenskap och biovetenskap. CII är en unik infrasxtruktur då att vi har verktyg och kompetens för både MALDI och dynamisk samt statisk sekundärjonspektrometri (SIMS samt TOF-SIMS). Internationellt har vi en världsledande utrustningsbas bakom internationellt erkända experter inom utveckling och tillämpning av SIMS. CII tillhör institutionen för kemi och kemiteknik vid Chalmers och institutionen för kemi och molekylärbiologi vid Göteborgs universitet. För mer information besök vår engelskspråkiga hemsida.

Publicerad: to 23 jun 2016. Ändrad: ti 28 nov 2017