Studentarbete
Evenemanget har passerat

Presentation av examensarbete, Sara Kraamer

Titel: Implementation of a wafer-level test setup for the purpose of reliability assessment of GaN devices

Lägg till i OutlookLägg till i Google kalender

Översikt

Evenemanget har passerat

Du hittar mer information på vår engelska sida.

Kontakt

Niklas Rorsman
  • Forskningsprofessor, Mikrovågselektronik, Mikroteknologi och nanovetenskap
Kontakt
Presentation av examensarbete, Sara Kraamer | Chalmers