Tord Bengtsson utsågs till adjungerad professor i Högspänningsteknik fr o m 1 mars 2006 och längst t o m 28 febrauri 2009.
Han föddes i Karlshamn 1954 och tog civilingenjörsexamen i teknisk fysik vid Lunds Tekniska Högskola (LTH) 1977 där han 1985 blev teknisk doktor i matematisk fysik. Efter doktorsexamen arbetade han två år som stipendiat vid Nordiskt Institut för Teoretisk Atomfysik i Köpenhamn och sedan ytterligare fyra år som forskningsassistent i matematisk fysik vid LTH. Under denna tid arbetade han med beräkning av atomkärnors egenskaper speciellt i tillstånd med högt spinn och hade ett omfattande internationellt samarbete. Han blev docent i matematisk fysik 1990.
Sedan 1991 arbetar han på ABB Corporate Research i Västerås där han numera är Senior Principal Scientist med ansvar för diagnostik av kraftsystem och apparater. På Chalmers är han sedan 2004 biträdande handledare för två doktorander i högspänningsteknik.
Sammanfattning av forskning
Arbetet på Chalmers rör ett relativt outforskat men alltmer industriellt viktigt område, nämligen egenskaper hos elektrisk isolation då den utsätts för snabba spänningsförändringar. Med modern kraftelektronik i många tillämpningar upptäcker man att kunskaper som gäller för normala spänningsformer, 50 Hz sinus, inte är lätt tillämpbara. Ett antal haverier under senare år tillskrivs effekterna av spänningsformer med mycket stort frekvensinnehåll.
Intresset gäller dels problematiken att detektera s.k. partiella urladdningar, små urladdningar som inte direkt innebär haveri men som med tiden kan erodera isolationsmaterialet och därmed bereda väg för en elektrisk kortslutning. Konventionell detekteras dessa i ett frekvensområde som ligger mycket högre än normal kraftfrekvens, därmed är det möjligt att mäta spänningsförändringar i storleksordningen Volt från urladdningar även vid spänningar på 100-tals kV. Med spänningsformer från kraftelektronik är detta inte längre möjligt och arbetet inriktas på att finna nya metoder för detektering genom att studera de partiella urladdningarnas egenskaper.
Partiella urladdningar är emellertid inte det enda fenomenet som kan orsaka haverier. Interna förluster i isolationsmaterial kan orsaka överhettning som leder till haveri. För att studera egenskaper hos förlusterna i olika isolationsmaterial används dielektrisk responsteknik. Med hjälp av utvecklingar i denna teknik hoppas vi kunna karaktärisera och klassificera olika materials lämplighet som isolation när den utsätts för snabba spänningsförändringar.